Wij hebben in ons labo OMT een veelvoud aan optische meettechnieken ter beschikking voor een volledige karakterisatie van kleur en appearance van reflecterende, translucente en transmissive materialen. Oppervlaktekarakteristieken zoals glans, haze, orange peel, distinctness-of-reflected-image (DOI) worden met belichtings- en observatiegeometrie volgens internationale standaarden (ASTM, ISO, …) bepaald. Kleur en het effect van optische witmakers kunnen getypeerd worden adh van alle relevante colorimetrische parameters (CIE, Hunter, etc.) in functie van spectrale verdeling van de lichtbron en de observatiegeometrie. Onze meetinstrumenten variëren van diffuse en gerichte UV/VIS/NIR spectraal fotometers over fluxmeters met visuele filter karakteristiek tot een colorimetrisch / multi-spectraal imaging goniometer voor de bepaling van de bidirectionele reflectie of transmissie distributiefunctie (BRDF/BTDF). Deze laatste techniek kan zowel voor reflecterende materialen (oam. effect coatings of optische beveiligingen) als ook voor emissive displays gebruikt worden. Bovendien bieden wij gekalibreerde UV/VIS radiometrie van lichtbronnen en displays aan, evenals sensitometrische diensten (spectraal geresolveerde belichting van lichtgevoelig materiaal in de UV/VIS/NIR).

Een ruim aanbod van beeldcaptatie toestellen voor “machine vision” waaronder high end microscopen, scanners en camera’s met een hoog dynamisch bereik laat toe, om afhankelijk van de vraag kleine details op micron schaal of grote oppervlakken van tientallen cm met de gepaste spectrale gevoeligheid, belichtings- of detectiegeometrie met maximaal contrast af te beelden: Naast klassieke dark- en bright-field technieken zo als in een microscoop is er ook een variabel beeldvormingtoestel met gecollimeerde belichting en tele-centrische (zoom) detectielenzen beschikbaar, waarmede bv. verschijnsel op oppervlaktes tov. hun appearance (glans, haze, …) in beeld gebracht kunnen worden. De karakterisatie van gecapteerde beelddetails of textuur is gebaseerd op segmentatie technieken (beeldanalyse) om het aantal, de frequentie en de kwaliteit van punt en lijn kenmerken zoals puntafwijkingen, krassen, walslijnen, letterkwaliteit, gedrukte schakelingen, barcode kwaliteit etc. of de homogeniteit, mottle, textuur en ruis van flat fields te kwantificeren. De analyse kan met het oog op de menselijke visuele waarneming (contrast gevoeligheid curve, frequentie analyse middels Fourier), of met zicht op specifieke detectie eigenschappen van machines en/of internationale standaarden (ISO, ASTM, DIN…) gebeuren.

Ons labo voor het testen van beeld permanentie biedt een groot aantal stabiliteitstesten, die toegepast kunnen worden voor vragen rond voorspelling van stabiliteit van materialen in verschillende gebruiksomstandigheden (klimaat en licht) of voor onderzoek van shelf-life eigenschappen. Wij hebben testkamers met Xe-arc en fluorescentie lampen ter beschikking voor het versneld testen van lichtvastheid. Thermische stabiliteit, gebaseerd op versnelde Arrhenius testschema’s, of vochtigheidsvastheid kan gemeten worden bij verschillende instellingen van T/RV in een groot aantal gecalibreerde testkamers. Daarenboven beschikken we ook over een T/RV gecontroleerde ozon testkamer. Alle stabiliteitstesten worden uitgevoerd in overeenstemming met internationale standaarden (ISO, ASTM,…).
De effecten van incubatie op de functionele, optische, chemische of fysische materiaaleigenschappen kunnen opgevolgd worden door op verschillende tijdstippen stalen te nemen. Op die manier kunnen wij allesomvattende stabiliteitstesten aanbieden, inclusief mechanische duurzaamheidtesten via de HTT labs.

De dienst Materiaal Optica levert optische metingen en omvattend advies voor de karakterisatie en een kwantitatief begrip van de optische prestaties van functionele materialen zoals coatings of displays. De optische eigenschappen van individuele materiaalcomponenten kunnen bepaald worden op basis van hoek geresolveerde UV/VIS/NIR reflectometrie tussen 220 en 2500 nm, een methode die voor coatings dikker dan 100 nm vergelijkbaar is met ellipsometrie.
Op basis van de optische eigenschappen en informatie over de structuur van de laag – de nodige structurele karakterisatie van de materialen kan geleverd worden door onze PHYS labs – kan het lichttransport doorheen verschillende lagen van samengestelde functionele materialen geanalyseerd en gemodelleerd worden. Dit bevat bv. het effect van interferentie in dunne lagen, licht verstrooiing tgv van deeltjes (MIE verstrooiing) en interface ruwheid op de spectro-goniometrische gedraag van het materiaal. Typische toepassingen omvatten analyse van optische laagdikte, opaciteit en zijwaartse lichtspreiding (bv dot-gain), maar ook diepte absorptie profielen van UV/VIS/IR straling in lichtverstrooiende media en tenslotte de karakterisatie van complexe optische beveiligingen.